Dantsin-Werth將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化準(zhǔn)確測(cè)量，并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸**的高精密測(cè)量，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析?？蓪?duì)塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損尺寸測(cè)量和裝配評(píng)估等。壓縮測(cè)量周期的同時(shí)，保證了高品質(zhì)的要求。此機(jī)榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計(jì)金獎(jiǎng)。
WERTH_工業(yè)CT測(cè)量機(jī)_X射線斷層掃描測(cè)量機(jī)_X射線坐標(biāo)測(cè)量機(jī)_無(wú)損測(cè)量 | 瑞士丹青官方提供
Tomo測(cè)量機(jī)主要特點(diǎn)：
◆ 將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸**測(cè)量
◆ 可選配**個(gè)Z軸，配置其他傳感器（光學(xué)、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù)，進(jìn)一步保證 CT測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
◆ 堅(jiān)固的花崗巖基座，保證機(jī)器具有高穩(wěn)定性
◆ 高精密機(jī)械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng)，確保實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量
◆ 無(wú)論從設(shè)計(jì)還是結(jié)構(gòu)，測(cè)量機(jī)完全滿足并超出X射線使用**標(biāo)準(zhǔn)
◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù)，測(cè)量速度更快
◆ Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨(dú)立校準(zhǔn)系統(tǒng)
◆ Werth公司技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù)：
精密測(cè)量微小部件
掃描更大尺寸工件，提高分辨率
擴(kuò)展測(cè)量范圍
◆ 測(cè)量軟件可快速3D重構(gòu)，也可進(jìn)行2D測(cè)量
◆ 測(cè)量工件內(nèi)部尺寸的同時(shí)，也可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析
◆ 選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國(guó)**計(jì)量院PTB長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ，界面友好，操作簡(jiǎn)單
◆ 可使用擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對(duì)
◆ 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測(cè)量，首件評(píng)估，逆向工程，質(zhì)量控制等
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應(yīng)用領(lǐng)域: 模具行業(yè)、逆向工程、汽車(chē)行業(yè)、航空航天、精密機(jī)械加工、船舶等
技術(shù)參數(shù)：
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型 號(hào) |
TomoScope |
TomoCheck |
TomoScope HV Compact |
TomoScope HV |
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測(cè)量工件尺寸(直徑) |
90mm |
90mm |
350mm |
350mm |
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測(cè)量高度 |
200mm |
200mm |
350mm |
500mm |
|
允許誤差 (用CT傳感器) |
(4,5+L/75) μm |
(1,5+L/500) μm |
(4,5+L/75) μm |
(4,5+L/75) μm |
|
允許誤差(E1:單軸精度) |
(2,5+L/120) μm |
(0,5+L/900)μm |
(2,5+L/120) μm |
(2,5+L/120) μm |
|
(E2:平面精度) |
(2,9+L/100) μm |
(0,7+L/600) μm |
(2,9+L/100) μm |
(2,9+L/100) μm |
|
(E3:空間精度) |
(4,5+L/75) μm |
(1,5+L/500) μm |
(4,5+L/75) μm |
(4,5+L/75) μm |
|
X射線源 |
130kV(150,190kV可選) |
130kV |
225kV |
225kV(450kV可選) |
|
X射線探測(cè)器像素 |
1024x1024 |
1024x1024 |
1024x1024 |
2048x2048 |
|
X射線探測(cè)器尺寸 |
50x50mm |
50x50mm |
200x200mm |
400x400mm |
|
分辨率 |
0.1μm |
0.1/0.01μm |
0.1μm |
0.1μm |
|
定位速度 |
150mm/s |
60mm/s |
150mm/s |
150mm/s |
|
加速度 |
300mm/s2 |
250 mm/s2 |
350 mm/s2 |
350 mm/s2 |
|
工作臺(tái)承重 |
2kg |
10kg |
40kg |
40kg |
|
電源 |
230V +/-10% |
3x400V/N/PE |
3x400V/N/PE |
3x400V/N/PE |
|
氣壓 |
7-10bar |
7-10bar |
7-10bar |
7-10bar |
|
儀器自重 |
3000kg |
6000kg |
8500kg |
11000kg |
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1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測(cè)量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
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